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    ACR 核磁共振系統(tǒng)成像性能檢定系統(tǒng)

    型號(hào):

    產(chǎn)品時(shí)間:2022-10-15

    簡要描述:

    ACR 核磁共振系統(tǒng)成像性能檢定系統(tǒng),對(duì)核磁共振設(shè)備進(jìn)行圖像性能質(zhì)量評(píng)估。標(biāo)準(zhǔn)配置:ACR標(biāo)準(zhǔn)核磁共振檢測模型1只,ACR磁共振成像(MRI)質(zhì)量控制手冊(cè)-中文版 1本,標(biāo)準(zhǔn)箱1只。

    推薦產(chǎn)品
    詳細(xì)介紹

    ACR 核磁共振系統(tǒng)成像性能檢定系統(tǒng)產(chǎn)品簡介:

    對(duì)核磁共振設(shè)備進(jìn)行圖像性能質(zhì)量評(píng)估

     

    ACR 核磁共振系統(tǒng)成像性能檢定系統(tǒng)技術(shù)參數(shù):

    1. 外型尺寸:圓柱形,外徑200mm,壁厚5mm。
    2. 磁共振影像檢測項(xiàng)目:幾何畸變率(空間線性),空間分辨率,掃描層厚精度,層厚,位置精度,層間距,評(píng)價(jià)圖像帶寬,低對(duì)比靈敏度,空間均勻性,信噪比(SNR),T1、T2 弛豫時(shí)間值測量,三維像素尺寸評(píng)估,樣本測試。
    3. 兩個(gè)立方體用10 毫摩爾氯化鎳和植物脂肪。通過測量化學(xué)位移以測試帶寬。
    4. 幾何精度,失真,偽影和距離的測量:10x10 方形網(wǎng)格陣列。
    5. 兩組反向相對(duì)的45 度夾角的斜梯。用于精確測量物理和電子定義的層厚偏移量和評(píng)價(jià)層間的差距。
    6. 低對(duì)比度探測力:四層測試盤, 厚度為0.05mm,0.1mm,0.15mm,0.20mm 與10 個(gè)直徑從1.5 到7.0mm 變化的小孔。
    7. 層厚精度:相對(duì)反向遞減楔形梯。
    8. 高對(duì)比度空間分辨率:3 組11mm 深的小孔矩陣。陣列中小孔直徑分別為1.1mm,1.0mm 和0.9mm。




    標(biāo)  準(zhǔn):

    美國放射學(xué)院(ACR)磁共振成像成像(MRI)質(zhì)量保證委員會(huì)推薦

     

    應(yīng)用范圍:

    性價(jià)比ji高

    預(yù)充核磁共振補(bǔ)充液,即得即用

    提供中文版檢測標(biāo)準(zhǔn)指南

     



    產(chǎn)品簡介:

    對(duì)核磁共振設(shè)備進(jìn)行圖像性能質(zhì)量評(píng)估

     

    技術(shù)參數(shù):

    1. 外型尺寸:圓柱形,外徑200mm,壁厚5mm。
    2. 磁共振影像檢測項(xiàng)目:幾何畸變率(空間線性),空間分辨率,掃描層厚精度,層厚,位置精度,層間距,評(píng)價(jià)圖像帶寬,低對(duì)比靈敏度,空間均勻性,信噪比(SNR),T1、T2 弛豫時(shí)間值測量,三維像素尺寸評(píng)估,樣本測試。
    3. 兩個(gè)立方體用10 毫摩爾氯化鎳和植物脂肪。通過測量化學(xué)位移以測試帶寬。
    4. 幾何精度,失真,偽影和距離的測量:10x10 方形網(wǎng)格陣列。
    5. 兩組反向相對(duì)的45 度夾角的斜梯。用于精確測量物理和電子定義的層厚偏移量和評(píng)價(jià)層間的差距。
    6. 低對(duì)比度探測力:四層測試盤, 厚度為0.05mm,0.1mm,0.15mm,0.20mm 與10 個(gè)直徑從1.5 到7.0mm 變化的小孔。
    7. 層厚精度:相對(duì)反向遞減楔形梯。
    8. 高對(duì)比度空間分辨率:3 組11mm 深的小孔矩陣。陣列中小孔直徑分別為1.1mm,1.0mm 和0.9mm。
     

    商品詳情:


    核磁共振系統(tǒng)成像性能檢定系統(tǒng)

    標(biāo)準(zhǔn)配置:ACR標(biāo)準(zhǔn)核磁共振檢測模型1只,ACR磁共振成像(MRI)質(zhì)量控制手冊(cè)-中文版 1本,標(biāo)準(zhǔn)箱1只


     


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